Integrierter Test von digitalen und analogen I/O-Signalen

Mit dem neuen CION-LX Module/FXT32 wird die Testabdeckung beim Einsatz von Prüfadaptern in Verbindung mit JTAG/Boundary Scan erhöht. Dabei wird das Modul als paralleles I/O-Modul mit in die Boundary-Scan-Kette eingebunden. Über die analogen Features des integrierten CION-LX Bausteins lassen sich analoge Spannungsmessungen durchführen, was bei reinen Boundary Scan Tests oft nicht ohne Zusatzhardware möglich ist.

(Bild: GÖPEL electronic)

Die Testerweiterungshardware CION-LX Module/FXT32 kann aufgrund ihrer geringen Baugröße optimal in Prüfadapter integriert werden. Durch die ultrakompakte Bauweise, gepaart mit der hohen Funktionalität durch den eingesetzten Mixed-Signal Baustein CION-LX, lassen sich sowohl digitale als auch analoge Tests direkt in der Nähe des Prüflings im Prüfadapter ausführen.

Das Modul ist beliebig kaskadierbar, so dass auch weitere I/O-Signale zur Verfügung gestellt werden können. Sämtliche I/O-Signale und die Stromversorgungszuführung sind auf Standard 2,54 mm Stiftleisten geführt, die sich auch optimal für Wire-Wrap-Verbindungen in Testadaptern eignen.

Es werden insgesamt 32 multifunktionale Boundary-Scan-Single-Ended-Testkanäle zur Verfügung gestellt. Jeder dieser Testkanäle kann in seiner Datenrichtung frei programmiert werden (Eingang, Ausgang, Bi-direktional und Tristate). Darüber hinaus stehen acht differentielle Signalpaare zur Verfügung, die durch Ihre IEEE 1149.6 Unterstützung optimal geeignet sind, um auch über Koppelkondensatoren hinaus, Boundary Scan Tests durchzuführen.

Durch den integrierten, programmierbaren Power-Manager ist eine sehr einfache Anpassung der I/O-Pegelgruppen an den jeweiligen Prüfling möglich.

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