Kelvin Test Contactor für QFN-, SOP- und QFP-Bausteine

Yamaichi Electronics präsentiert für Halbleiterbausteine im QFN-, SOP- und QFP-Gehäuse Kelvin-Testsockel für den Einsatz im Labor und Testfloor.

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Kelvin Test Contactor für QFN-, SOP- und QFP-Bausteine (Quelle: Yamaichi)

Das Wettrüsten um dünne und leichtgewichtige, aber dennoch  leistungsfähige Verbrauchergeräte wie Smart Phones bringt eine hohe Integrität von sensiblen Funktionen auf einem
Halbleiterbaustein mit sich. Damit der Halbleiterhersteller Funktionalität gewährleisten kann, muss auch das Testequipment entsprechend leistungsstark sein. Die neuen Test Contactoren mit Kelvin-Pins sorgen dafür, dass diese IC-Bausteine zuverlässig getestet werden können.

Mit der Test Contactor Serie YED274-Kelvin stellt Yamaichi Electronics ein breites Spektrum an Lösungen zur Verfügung. Die Test Contactoren mit Kelvin Fine-Pitch Pins sind als Testsockel mit festem Deckel zur manuellen Bausteinprüfung, aber auch in verschiedenen, an den Baustein-Handler angepassten Ausführungen für den Volumen-Test verfügbar.

Die Fine-Pitch Kelvin-Pins werden für QFN-, SOP- und QFP-Bausteine eingesetzt. Um die zuverlässige Kontaktierung der Bausteinpads mit unterschiedlichsten Oberflächenlegierungen zu gewährleisten, sind die Pin-Plunger in gehärtetem Stahl mit Palladium- oder Gold-Oberfläche ausgeführt. Durch die Pin-Kraft von 28 gf wird das Oxid im Temperaturbereich von -55 bis +150°C sicher durchbrochen.

Die lange Standzeit der Pins wird mit einem Kontaktwiderstand von ≤ 50m Ohm abgerundet. Die Materialien der Test Contactoren sind so gewählt, dass auch große Temperaturwechsel absolviert werden können. Für den Test Contactor im Laborbetrieb bildet die erfolgreiche Y-RED-Produktlinie die Basis. Viele nützliche Features finden sich in der YED274 Kelvin-Serie wieder. Die Test Contactoren für den automatischen Volumen-Test können für nahezu an alle Baustein-Handler adaptiert werden.

yamaichi.de

 

 

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