Kosteneffiziente Wafer-Tests mit hohem Durchsatz

(Bild: Keysight)

Keysight Technologies hat das neue parallele parametrische Testsystem Keysight P9002A vorgestellt, das kosteneffiziente Wafertests mit hohem Durchsatz ermöglicht, um die Markteinführung in Forschung und Entwicklung zu beschleunigen und die Testkosten in der Fertigung zu senken.

Die weltweite Halbleiterknappheit hat zu einer steigenden Nachfrage nach Halbleitern in der Automobilindustrie sowie bei digitalen Geräten und Haushaltsgeräten geführt. Die kontinuierliche technologische Innovation bei Halbleitern schreitet schnell voran, und die Branche steht vor einer Vielzahl technischer Herausforderungen bei der Anpassung neuer Materialien sowie bei Miniaturisierungs- und 3D-Packaging-Verfahren. Darüber hinaus führt das komplizierte Design von Geräten für kommerzielle Anwendungen wie 5G, Rechenzentren, künstliche Intelligenz (KI) und die Automobilindustrie zu einer Zunahme der Testparameter.

Um dieser Herausforderung zu begegnen und den Herstellern eine schnelle Kapazitätserweiterung zu ermöglichen, hat Keysight das neue parallele parametrische Testsystem P9002A entwickelt, das einen kosteneffizienten Wafertest mit hohem Durchsatz sowie eine flexible Optionsstruktur für bis zu 100 Kanäle paralleler Testressourcen bietet, einschließlich der für parametrische Tests an jeder Testressource erforderlichen Testfunktionen. Die P9000-Serie von Keysight bietet Softwarekompatibilität mit der SPECS-Software der parametrischen Tester der Serie 4080, so dass Kunden ihre bestehenden Testprogramme und Testpläne mit Datenkorrelationen nutzen können.

Das neue parallele parametrische Testsystem P9002A von Keysight bietet die folgenden wichtigen Kundenvorteile:

  • Die Möglichkeit, je nach Testanforderungen Optionen hinzuzufügen, mit einer Lizenzstruktur für eine kosteneffektive Budgetierung.
  • Einzigartige parametrische Testtechnologien und schnelle Kapazitätsmessungen sorgen für einen höheren Durchsatz als bei den parametrischen Testern der Serie 4080.
  • Die Systemkompatibilität und Datenkorrelation mit den parametrischen Testern der Serie 4080 von Keysight ermöglicht es den Anwendern, ihre vorhandenen Testerprogramme, Testpläne und Tastkopfkarten mit 4080-kompatiblen Tastkopfkartenadaptern zu verwenden, um die Kosten für den Aufbau einer neuen P9002A-Testumgebung zu minimieren.

„Keysight freut sich, die Entwicklung und Herstellung von sich ständig weiterentwickelnden Halbleitern mit fortschrittlichen Messlösungen wie dem Testsystem P9002A unterstützen zu können“, sagte Shinji Terasawa, Vice President und General Manager der Wafer Test Solutions von Keysight. „Diese neue Lösung spiegelt das Engagement von Keysight wider, unseren Kunden bei der Lösung ihrer geschäftlichen Herausforderungen mit bewährter Erfahrung und Expertise bei parametrischen Tests zu helfen.“

keysight.com

Contact Us

We're not around right now. But you can send us an email and we'll get back to you, asap.

Start typing and press Enter to search