Neue Features für schnelleres Debugging

JTAG Technologies veröffentlicht eine neue Version des JTAG Visualizers – einem grafischen Tool zur Anzeige von Leiterplattenlayout und Schaltplan. Die Software rlaubt eine einfache Anzeige der Fehlerabdeckung und ermöglicht die punktgenaue Lokalisierung von Fehlern, welche im Produktionstest festgestellt wurden.

Mit der breiten Palette von Importfiltern für verschiedenste CAD-Hersteller eignet sich der Visualizer für Entwicklungsaufgaben von Boundary-Scan-Tests. Der Anwender kann den Schaltplan direkt aus Mentor (Pads, DxDesigner, Caputure), Cadance, Altium oder Zuken importieren. Die Layoutdaten werden im ODB++ Format oder einem Dutzend weiterer anbieterspezifischer Formate eingelesen.

Screenshot JTAG Visualizer (Quelle: JTAG)

Neu in dieser Version des Visualizers ist das Feature „Maps“, welches eine elementare Darstellung des Boundary-Scan-Testzugriffs erlaubt. Dieser basiert auf der Erweiterung der Bauteil-Beschreibung in einer Look-up-Tabelle. Der Boundary-Scan-Testzugriff wird in unterschiedlichen, vom Kunden frei konfigurierbaren Farben, angezeigt. Der „eingefärbte“ Schaltplan wird direkt angezeigt und kann auch ausgedruckt werden. Sobald das Design bezüglich der Boundary-Scan-Testabdeckung optimiert und layoutet wurde, kann mittels des Entwicklungswerkzeugs JTAG ProVision mit der Testapplikationsentwicklung begonnen werden.

Der JTAG Visualizer bietet zudem eine Reihe neuer Funktionen:

Visualize on (Test) Fail – Bei der Entwicklung einer Testsequenz oder während des Testdebuggings ist es möglich, sich alle fehlerbehafteten Schaltungsknoten automatisch im Schaltplan bzw. Layout anzeigen zu lassen. Gerade bei kleinen Losgrößen, bei denen der Prüfer auch für die Fehlerdiagnose und Reparatur zuständig ist, ermöglicht dieses Feature eine einfache Lokalisierung des Fehlers.

Locate Next – Bei der Fehlersuche kann der Reparateur mit Hilfe der ‘Locate Next’-Funktion den Verlauf eines Netzknotens durch die Lagen eines Leiterplatten-Layouts oder die Seiten eines Schaltplans verfolgen.

Multiple Color Themes– Benutzer können jetzt mehrere Farbschemen zur leichten Unterscheidung verschiedener Netzklassen definieren. Das gilt z B. für die prozentuale Fehlerabdeckung im Schaltplan oder für fehlerhafte Netze im Layout, was das Debugging und die Reparatur erleichtert.

View Through Layers – Ein markiertes, fehlerhaftes Netz, welches z.B. als eine fehlerhafte Leiterplattenverbindung erkannt wurde, kann jetzt entlang seines gesamten Verlaufs, über alle Lagenwechsel, betrachtet werden.

Add Notes – An frei wählbaren Positionen im Schaltplan oder Layout können Hinweise oder Notizen hinzugefügt werden. Sie eignen sich zum Austausch zusätzlicher Informationen über Testprozesse oder Designdetails mit anderen Anwendern.

jtag-technologies.com

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